Параметрический и функциональный контроль

Лаборатория располагает измерительным оборудованием ведущих международных фирм-производителей, которое позволяет осуществлять тестирование:

• тестирование БИС и СБИС (микросхем памяти и контроллеров);
• микросхем памяти и микроконтроллеров на основе БИС и СБИС;
• тестирование СВЧ-микросхем и компонентов (частотный диапазон: от 5 кГц ÷ 40 ГГц), конвертеров и детекторов с несущей частотой до 6 ГГц;
• СВЧ микросхем и компонентов с использованием:
  • 4-х портового векторного анализатора цепей (10 МГц-40 ГГц) с возможностями: измерение S-параметров, измерение шумовых параметров, измерение параметров устройств со смещением фазы, измерение параметров устройств со смещением частоты;
  • спектроанализатора (5кГц-20ГГц), и 2-х портового векторного генератора сигнала (100кГц-6ГГц) с возможностями смещения фазы, генерации 2-х тонового сигнала, сигналов специфической формы;
• тестирование цифровых сигнальных процессоров;
• тестирование АЦП;
• дискретных микросхем, в том числе ЦАП и АЦП;
• тестирование ПЛИС;
• преобразователей интерфейсов, протоколов, микросхем средней степени интеграции, Программируемых логических интегральных схем и других микросхем цифровой обработки сигналов;
• тестирование интегральных схем средней степени интеграции;
• тестирование пассивных элементов электронной компонентной базы;
• тестирование полупроводников (транзисторов, диодов, светодиодов, оптопар, источников питания, конвертеров, вентиляторов, реле, кварцевых генераторов, простых операционных усилителей, источников опорного напряжения).